闪存坏块的特性

我在对FLASH中的三个擦除失败的坏块进行测试时候发现他们都是读回全0的数据不管是A,B,C区.
请问各位这能否作为一个固有特性就是说当对一个坏块擦除后他是变成全0,而不是FF.

这三个坏块是出厂标记的坏块还是到后来用坏的？如果是出厂标记的，读出来可能都是0；如果是以后用坏的就很难说了。所以，不能以此作为坏块的判断依据

我可不知道是否出厂就有的不过FLASH是二手的.
有三个坏块.
我看过一段资料就是说坏块也是可以擦除的.
但是擦除后不能恢复.
我不明白不能恢复是什么意思?如果是全0那就是不能恢复的.
那么全0能否作为擦除后的固有特性呢?
我指的是擦除后的状态而不是说坏块的状态.
各位朋友有没有碰到坏块是擦除失败后没有全0的呢?
我了解这点主要是为了提高坏区映射的效率.
如果坏区擦除没有任何固有特性的话而仅仅是由FLASH返回一个失败标志的话,那么我就只能从坏区表中逐个匹配了.
而且对于读取操作来说效率就更低,因为我不知道这块是否坏的,而只能先到坏区表匹配,一直到找到为止.但是绝大多数情况都是好块,如此效率就低了.如果存在固有特性的话就方便多了.

或者说FLASH内有无一种机制当擦除失败后会自动填0,当然不能确保
每个BIT肯定都能为0,因为肯定有BIT是坏的,可是至少好的BIT都为0?

三星的手册上有讲如何判断啊！坏块不可能都是为0！！！