请教usb端口的loop back测试模式

目前需要开发一个采用ICH4芯片主板上的usb端口测试程序，来测试usb端口的工作情况，我查阅了ICH4的datasheet,发现它内部的UHCI
contraollers registers中的USB Command Register的bit8有如下描述：
bit                description
8            loop back test mode--R/W
             0=disable loop back test mode
             1=ICH4 is in loop back test mode.when both ports are connected together,a write to one port will be seen on the other port and the data will be stored in I/O offset 18h.

我的理解是将此寄存器对应usb hub的两个端口用对连线连起来行成一个loop back，然后将此位设置在loop back test mode,接下来向一个端口发数据，就可以从I/O offset 18h 读到，不知道理解的对不对。
最重要的是我该怎样向其中的一个端口发数据呢，恳请大家指导我一下吧。              
                    


[编辑 -  3/4/05 by  perjune]

再次恳请大家帮帮忙，如果我问题描述没清楚，不知道是那没说清楚啊